锂离子电池防护板常见缺陷分析
一、无闪蒸，输出电压，无负载
这种不良的初级排斥不良电池(电池原本无电压或低电压)，假定不良电池应测试看护板自耗是否过大导致电池电量过低。假如电池电压正常，则是由于保护板的整个电路都是闭合的(元器件的假焊、熔断器的缺陷、PCB板内部电路闭合、通孔闭合、MOS、IC损坏等)。一个具体的分析
流程如下:
(I)将黑色计笔连接到电池的负极,红米笔保险丝和R1阻力反过来,Vdd,Dout,CoutIC,P+结束(假定电池电压为3.8v),一段一段的分析,几个测试点应3.8v。否则，电路就有问题。
1.改变熔断器两端电压:检查熔断器是否打开，指导规则是否PCB板内部电路未连接;假如常规熔断器有问题(进线不良、过流损坏(MOS或IC控制故障)，或材料有问题(熔断器在MOS或IC动作之前烧断)，则用金属丝熔断以作进一步分析。
2.改变R1电阻两端的电压:检查R1的电阻值。假如电阻值异常，可能是虚焊，电阻本身开裂。假如阻值没有异常，IC的内阻可能是一个问题。
3.IC测试端电压改变，Vdd端接R1电阻Dout、Cout端出故障，因为IC虚焊或损坏。
4、假如前面的电压没有变化，测试B-到P+之间的电压是否异常，因为保护板是通过孔的。
(2)红色仪表笔连接电池正极。激活MOS管后，将黑色仪表笔连接到MOS管的2、3、6、7管脚，p端。
1.假如MOS管2、3、6、7引脚的电压发生变化，则显示MOS管异常。
2.假如MOS管电压没有变化，p端电压异常，是由于保护板被孔堵塞。
二、短路无保护
1.VM电阻问题:万用表可与IC2引脚连接，表笔可与VM电阻连接的MOS引脚连接，且允许其阻值。看电阻是否与IC、MOS引脚虚焊。
2.IC和MOS失调:过放电保护和过电流、短路保护共用一个MOS管。假如短路故障是由MOS问题引起的，则该板不应具有过放电保护功能。
3.以上为正常情况下的缺陷，或IC、MOS设备引起的短路故障。例如，型号为312D的bk-901，内部延时过长，导致MOS或其他器件在IC进行相应的动作控制之前被损坏。注:同时，确认IC或MOS是否有故障的最简单、最直接的方法是更换可疑的元器件。
短路保护，无自恢复功能
1.用于规划的IC没有自恢复功能，如G2J、G2Z等。
2.仪器设置短路恢复时间太短,或负载短路测试期间不删除,如短路计笔不是从测试结束后短路计笔短路与万用表电压文件(万用表相当于一堆几兆字节)。
3.P+和P-之间的泄漏，如焊盘之间有杂质的松香，有杂质的黄胶或P+和P-电容之间的P断，ICVdd和Vss断。(电阻值只有几K到几百K)。
4.假设以上都是可以的，IC可能会坏掉，可以测试IC的引脚之间的阻值。
4、内部阻力
1.由于金属氧化物半导体的内阻相对稳定，且存在较大的内阻，所以重要的嫌疑人应该是FUSE或PTC，这类器件更换起来相对简单。
2.若熔断器或PTC电阻值正常，则根据保护板的结构，可检测到P+、P-pad与元件表面之间的通孔电阻值，通孔电阻值可稍破，但电阻值较大。
3.假如没有上述问题，就有必要怀疑MOS是否出了问题。其次，看板的厚度(是否容易弯曲)，因为弯曲可能会导致焊接销的不正常;然后将MOS管置于显微镜下观察是否断裂